|
|
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
ISO 19810:2017 | на печать | Керамика тонкая (высококачественная керамика, высококачественная техническая керамика). Метод определения самоочищающей способности полупроводниковых фотокаталитических материалов в условиях внутреннего освещения. Измерение угла контакта с водой |
|
| | Библиография Обозначение | ISO 19810:2017 | Статус | Заменен | Вид стандарта | ST | Заглавие на русском языке | Керамика тонкая (высококачественная керамика, высококачественная техническая керамика). Метод определения самоочищающей способности полупроводниковых фотокаталитических материалов в условиях внутреннего освещения. Измерение угла контакта с водой | Заглавие на английском языке | Fine ceramics (advanced ceramics, advanced technical ceramics) -- Test method for self-cleaning performance of semiconducting photocatalytic materials under indoor lighting environment -- Measurement of water contact angle | Дата отмены | 24.07.2023 00:00:00 | Код КС (ОКС, МКС) | 81.060.30 | Обозначение заменяющего | ISO 19810:2023 | ТК – разработчик стандарта | TC 206 | Язык оригинала | английский | Номер издания | 1 | Дата опубликования | 01.04.2017 | Количество страниц оригинала | 18 | Код цены | B | Примечание | | |
| | Стандарт ISO 19810:2017 входит в рубрики классификатора:
| |
| |
|
|
|
Цены |
На языке оригинала |
Нет
|
|
|