|
|
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
ISO 19668:2017 | на печать | Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Оценка и регистрация пределов обнаружения элементов в однородных материалах |
|
| | Библиография Обозначение | ISO 19668:2017 | Статус | Действует | Вид стандарта | ST | Заглавие на русском языке | Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Оценка и регистрация пределов обнаружения элементов в однородных материалах | Заглавие на английском языке | Surface chemical analysis -- X-ray photoelectron spectroscopy -- Estimating and reporting detection limits for elements in homogeneous materials | Код КС (ОКС, МКС) | 71.040.40 | ТК – разработчик стандарта | TC 201/SC 7 | Язык оригинала | английский | Номер издания | 1 | Дата опубликования | 14.08.2017 | Количество страниц оригинала | 32 | Код цены | D | Примечание | | |
| | Стандарт ISO 19668:2017 входит в рубрики классификатора:
| |
| |
|
|
|
Цены |
На языке оригинала |
22446,00
|
|
|