|
|
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
ISO 20411:2018 | на печать | Химический анализ поверхности. Вторично-ионная масс-спектрометрия. Метод коррекции интенсивности насыщения для вторично-ионной масс-спектрометрии с подсчетом первичных ионов в динамическом режиме |
|
| | Библиография Обозначение | ISO 20411:2018 | Статус | Действует | Вид стандарта | ST | Заглавие на русском языке | Химический анализ поверхности. Вторично-ионная масс-спектрометрия. Метод коррекции интенсивности насыщения для вторично-ионной масс-спектрометрии с подсчетом первичных ионов в динамическом режиме | Заглавие на английском языке | Surface chemical analysis -- Secondary ion mass spectrometry -- Correction method for saturated intensity in single ion counting dynamic secondary ion mass spectrometry | Код КС (ОКС, МКС) | 71.040.40 | ТК – разработчик стандарта | TC 201/SC 6 | Язык оригинала | английский | Номер издания | 1 | Дата опубликования | 09.03.2018 | Количество страниц оригинала | 22 | Код цены | C | Примечание | | |
| | Стандарт ISO 20411:2018 входит в рубрики классификатора:
| |
| |
|
|
|
Цены |
На языке оригинала |
16704,00
|
|
|