|
|
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
ISO 22415:2019 | на печать | Химический анализ поверхности. Вторично-ионная масс-спектрометрия. Метод определения коэффициентов распределения кластера аргона при измерении распределения по глубине органических материалов |
|
| | Библиография Обозначение | ISO 22415:2019 | Статус | Действует | Вид стандарта | ST | Заглавие на русском языке | Химический анализ поверхности. Вторично-ионная масс-спектрометрия. Метод определения коэффициентов распределения кластера аргона при измерении распределения по глубине органических материалов | Заглавие на английском языке | Surface chemical analysis -- Secondary ion mass spectrometry -- Method for determining yield volume in argon cluster sputter depth profiling of organic materials | Код КС (ОКС, МКС) | 71.040.40 | ТК – разработчик стандарта | TC 201/SC 6 | Язык оригинала | английский | Номер издания | 1 | Дата опубликования | 10.05.2019 | Количество страниц оригинала | 38 | Код цены | E | Примечание | Документ содержит цветные иллюстрации | |
| | Стандарт ISO 22415:2019 входит в рубрики классификатора:
| |
| |
|
|
|
Цены |
На языке оригинала |
26274,00
|
|
|