|
|
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
IEC 60749-5(2023) | на печать | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 5. Испытание на долговечность при установившейся температуре с изменением параметров влажности |
|
| | Библиография Обозначение | IEC 60749-5(2023) | Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 5. Испытание на долговечность при установившейся температуре с изменением параметров влажности | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test | МКС | 31.080.01 | Вид стандарта | ST | Обозначение заменяемого(ых) | IEC 60749-5(2017) | Дата опубликования | 19.12.2023 | Язык оригинала | английский;французский | Количество страниц оригинала | 17 | ТК – разработчик стандарта | TC 47 | Номер издания | 3.0 | Статус | Действует | Код цены | C | |
| | Стандарт IEC 60749-5(2023) входит в рубрики классификатора:
| |
| |
|
|
|
Цены |
На языке оригинала |
6960,00
|
|
|