| Обозначение | IEC 60749-6(2017) |
| Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 6. Хранение при высокой температуре |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature |
| МКС | 31.080.01 |
| Вид стандарта | ST |
| Обозначение заменяемого(ых) | IEC 60749-6(2002), IEC 60749-6(2002)/Cor.1(2003) |
| Дата опубликования | 03.03.2017 |
| Язык оригинала | английский |
| Количество страниц оригинала | 12 |
| ТК – разработчик стандарта | TC 47 |
| Номер издания | 2.0 |
| Статус | Действует |
| Код цены | B |
 |