Обозначение | IEC 60749-3(2017) |
Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 3. Внешний визуальный осмотр |
Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examination |
МКС | 31.080.01 |
Вид стандарта | ST |
Обозначение заменяемого(ых) | IEC 60749-3(2002), IEC 60749-3(2002)/Cor.1(2003) |
Дата опубликования | 03.03.2017 |
Язык оригинала | английский |
Количество страниц оригинала | 16 |
ТК – разработчик стандарта | TC 47 |
Номер издания | 2.0 |
Статус | Действует |
Код цены | C |
|