Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/6269501.aspx

IEC 60749-3(2017)

Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 3. Внешний визуальный осмотр

На языке оригиналаПоложить в корзину
Заказать перевод

Библиография

ОбозначениеIEC 60749-3(2017)
Заглавие на русском языкеПриборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 3. Внешний визуальный осмотр
Заглавие на английском языкеSemiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examination
МКС31.080.01
Вид стандартаST
Обозначение заменяемого(ых) IEC 60749-3(2002), IEC 60749-3(2002)/Cor.1(2003)
Дата опубликования03.03.2017
Язык оригиналаанглийский
Количество страниц оригинала16
ТК – разработчик стандарта TC 47
Номер издания2.0
СтатусДействует
Код ценыC

Стандарт IEC 60749-3(2017) входит в рубрики классификатора: