| Обозначение | ISO 25498:2018 |
| Статус | Действует |
| Вид стандарта | ST |
| Заглавие на русском языке | Анализ с использованием микропучка. Аналитическая электронная микроскопия. Электронный диффракционный анализ на отдельных участках с применением трансмиссионного микроскопа |
| Заглавие на английском языке | Microbeam analysis -- Analytical electron microscopy -- Selected area electron diffraction analysis using a transmission electron microscope |
| Код КС (ОКС, МКС) | 71.040.50 |
| Обозначение заменяемого(ых) | ISO 25498:2010 |
| ТК – разработчик стандарта | TC 202/SC 3 |
| Язык оригинала | английский |
| Номер издания | 2 |
| Дата опубликования | 16.03.2018 |
| Количество страниц оригинала | 46 |
| Код цены | F |
| Примечание | |
 |