| Обозначение | IEC 60749-18(2019) |
| Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 18. Ионизирующее излучение (суммарная доза) |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 18: Ionizing radiation (total dose) |
| МКС | 31.080.01 |
| Вид стандарта | ST |
| Обозначение заменяемого(ых) | IEC 60749-18(2002) |
| Дата опубликования | 10.04.2019 |
| Язык оригинала | английский;французский |
| Количество страниц оригинала | 44 |
| ТК – разработчик стандарта | TC 47 |
| Номер издания | 2.0 |
| Статус | Действует |
| Код цены | F |
 |