|
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск |
|
|
|
|
Перечень стандартов поступивших в Федеральное государственное бюджетное учреждение «Российский институт стандартизации» МЭК в промежуток времени: с 28-01-2021 по 28-01-2022
Найдено: 9 документов
Обозначение |
Заглавие на русском языке |
Статус |
Язык документа |
Цены с НДС (20%) в рублях
|
IEC 60050-102(2007)/Amd.3(2021)
|
Международный электротехнический словарь. Часть 102. Математика. Общие понятия и линейная алгебра. Изменение 3
|
Действует |
На языке оригинала
|
1740,00
|
|
IEC 60050-103(2009)/Amd.4(2021)
|
Международный электротехнический словарь. Часть 103. Математика. Функции. Изменение 4
|
Действует |
На языке оригинала
|
1740,00
|
|
IEC/TR 63258(2021)
|
Нанотехнологии. Руководство по применению эллипсометрии для оценки толщины наноразмерных пленок
|
Действует |
На языке оригинала
|
26100,00
|
|
IEC/TS 62607-6-6(2021)
|
Производство нанотехнологическое. Контроль основных характеристик. Часть 6-6. Графен. Равномерность деформации. Спектроскопия комбинационного рассеяния
|
Действует |
На языке оригинала
|
33060,00
|
|
IEC/TS 62607-6-10(2021)
|
Производство нанотехнологическое. Контроль основных характеристик. Часть 6-10. Материал на основе графена. Поверхностное сопротивление. Терагерцовая спектроскопия во временной области
|
Действует |
На языке оригинала
|
46980,00
|
|
IEC/TS 62607-6-19(2021)
|
Производство нанотехнологическое. Контроль основных характеристик. Часть 6-19. Материал на основе графена. Элементарный состав. CS анализатор и ONH анализатор
|
Действует |
На языке оригинала
|
26100,00
|
|
IEC/TS 62607-9-1(2021)
|
Производство нанотехнологическое. Контроль основных характеристик. Часть 9-1. Прослеживаемые измерения магнитных полей рассеяния с пространственным наноразмерным разрешением. Магнитно-силовая микроскопия
|
Действует |
На языке оригинала
|
60030,00
|
|
Страницы: 1 |
|
|
|
|