| Обозначение | IEC 62374(2007) |
| Заглавие на русском языке | Полупроводниковые приборы. Испытание на пробой диэлектрика в зависимости от времени (TDDB) для управляющих диэлектрических пленок |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Time dependent dielectric breakdown (TDDB) test for gate dielectric films |
| МКС | 31.080 |
| Вид стандарта | ST |
| Дата опубликования | 12.04.2007 |
| Язык оригинала | английский;французский |
| Количество страниц оригинала | 46 |
| ТК – разработчик стандарта | TC 47 |
| Номер издания | 1.0 |
| Статус | Действует |
| Код цены | F |
 |