| Обозначение | OVE/ONORM EN 60749-7:2012 04 01 |
| Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 7. Измерение внутреннего содержания влаги и анализ других остаточных газов
|
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases (IEC 60749-7:2011) (english version) |
| Код МКС | 31.080.01 |
| Дата опубликования | 01.04.2012 |
| Язык оригинала | английский |
 |