| Обозначение | DIN 50443-1-1988 |
| Заглавие на русском языке | Кремний для изготовления полупроводников. Определение дефектов и неоднородности кристаллов с помощью рентгенотопографии |
| Заглавие на английском языке | Testing of materials for use in semiconductor technology; detection of crystal defects and inhomogeneities in silicon single crystals by X-ray topography |
| Дата опубликования | 01.07.1988 |
| МКС | 29.045 |
| Вид стандарта | ST |
| Обозначение заменяемого(ых) | DIN 50443(1986-11) |
| Язык оригинала | немецкий |
| Количество страниц оригинала | 10 |
| Количество страниц перевода | 27 |
| Перекрестные ссылки | DIN 50433-1(1976-12)*DIN 50433-2(1976-12)*DIN 50433-3(1982-04)*DIN 50434(1986-02) |
| Код цены | Preisgruppe 8 |
 |