Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/6702016.aspx

ISO 16531:2020

Химический анализ поверхности. Профилирование глубины. Методы выравнивания ионного пучка и связанное с этим измерение тока или плотности тока для профилирования глубины в AES и XPS

На языке оригиналаПоложить в корзину
Заказать перевод

Библиография

ОбозначениеISO 16531:2020
Статус Действует
Вид стандартаST
Заглавие на русском языкеХимический анализ поверхности. Профилирование глубины. Методы выравнивания ионного пучка и связанное с этим измерение тока или плотности тока для профилирования глубины в AES и XPS
Заглавие на английском языкеSurface chemical analysis Depth profiling Methods for ion beam alignment and the associated measurement of current or current density for depth profiling in AES and XPS
Код КС (ОКС, МКС)71.040.40
Обозначение заменяемого(ых) ISO 16531:2013
ТК – разработчик стандарта TC 201/SC 4
Язык оригиналаанглийский
Номер издания2
Дата опубликования05.10.2020
Количество страниц оригинала26
Код ценыD
Примечание

Стандарт ISO 16531:2020 входит в рубрики классификатора: