|
|
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
IEC 60749-43(2017) | на печать | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 43. Руководящие указания по планам оценки надежности интегральных схем |
|
| | Библиография Обозначение | IEC 60749-43(2017) | Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 43. Руководящие указания по планам оценки надежности интегральных схем | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 43: Guidelines for IC reliability qualification plans | МКС | 31.080.01 | Вид стандарта | ST | Обозначение заменяющего | IEC 63287-1(2021) | Дата опубликования | 15.06.2017 | Язык оригинала | английский;французский | Количество страниц оригинала | 78 | ТК – разработчик стандарта | TC 47 | Номер издания | 1.0 | Статус | Заменен | Код цены | H | |
| | Стандарт IEC 60749-43(2017) входит в рубрики классификатора:
| |
| |
|
|
|
Цены |
На языке оригинала |
Нет
|
|
|