| Обозначение | IEC 60749-43(2017) |
| Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 43. Руководящие указания по планам оценки надежности интегральных схем |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 43: Guidelines for IC reliability qualification plans |
| МКС | 31.080.01 |
| Вид стандарта | ST |
| Обозначение заменяющего | IEC 63287-1(2021) |
| Дата опубликования | 15.06.2017 |
| Язык оригинала | английский;французский |
| Количество страниц оригинала | 78 |
| ТК – разработчик стандарта | TC 47 |
| Номер издания | 1.0 |
| Статус | Заменен |
| Код цены | H |
 |