|
 |
|
 |
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск |
|
|
|
|
Полупроводниковые приборы прочие
Фильтр по статусу:
Найдено: 10 документов | Страницы: 1 |
Заказ можно оформить только на действующие документы, у которых проставлена цена.Счет действителен к оплате в течение 10 рабочих дней.
| Обозначение | Заглавие на русском языке | Статус | Язык документа | Цена (с НДС 20%)
в рублях |
|
|
Blank detail-specification for field-effect transistors for case-rated switching application
|
Published |
|
На языке оригинала
|
1843,00
|
|
|
|
Blank detail specification for LED numeric displays
|
Published |
|
На языке оригинала
|
922,00
|
|
|
|
Semiconductor devices—Part 5-6: Optoelectronic devices—Light emitting diodes
|
Published |
|
На языке оригинала
|
6221,00
|
|
|
|
Micro-electromechanical system technology—Terms
|
Published |
|
На языке оригинала
|
3110,00
|
|
|
|
Semiconductor devices—Micro-electromechanical devices—Generic specification for MEMS
|
Published |
|
На языке оригинала
|
1843,00
|
|
|
|
Semiconductor devices—Micro-electromechanical devices—Bend-and shear-type test methods of measuring adhesive strength for MEMS structures
|
Published |
|
На языке оригинала
|
1382,00
|
|
|
|
Semiconductor devices—Micro-electromechanical devices—Wafer to wafer bonding strength measurement
|
Published |
|
На языке оригинала
|
1901,00
|
|
|
|
Micro-electromechanical systems technology（MEMS） —Description and measurement methods for micro trench and pyramidal needle structures
|
Published |
|
На языке оригинала
|
2880,00
|
|
|
|
Test methods of the performances for MEMS piezoresistive pressure-sensitive device
|
Published |
|
На языке оригинала
|
1498,00
|
|
|
|
Micro-electromechanical systems technology—Gyroscopes
|
Published |
|
На языке оригинала
|
4435,00
|
|
| Страницы: 1 |
|
|