|
 |
|
 |
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск |
|
|
|
|
Международные и зарубежные стандарты заказать возможно, направляйте заявку в отдел распространения документов по стандартизации на адрес gost@gostinfo.ru
Цветные металлы и их сплавы прочие
Фильтр по статусу:
Найдено: 5 документов | Страницы: 1 |
Заказ можно оформить только на действующие документы, у которых проставлена цена.Счет действителен к оплате в течение 10 рабочих дней.
| Обозначение | Заглавие на русском языке | Статус | Язык документа | Цена (с НДС 20%)
в рублях |
|
|
Test methods of crystalline defects in silicon by preferential etch techniques
|
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|
Methods of measurement of thickness,thickness variation and bow for silicon wafer
|
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|
Visual inspection for silicon wafers with specular surfaces
|
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|
General rules for chemical analysis of zirconium and zirconium alloys
|
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|
Tantalum - Method for atomic absorption spectrometric analysis
|
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
| Страницы: 1 |
|
|