| Обозначение | Заглавие на русском языке | Статус | Язык документа | Цена (с НДС 20%)
в рублях |
|
|
Semiconductor convertors - General requirements and line commutated convertors - Part 1 - 1:Specifications of basic requirements
|
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|
Semiconductor convertors - General requirements and line commutated convertors - Part 1-2:Application guide
|
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|
Semiconductor convertors - General requirements and line commutated convertors - Part 1-3:Transformers and reactors
|
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|
Printed electronics - Part 203: Materials - Semiconductor ink
|
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|
Measuring of minority - carrier lifetime in silicon single crystal by photoconductive decay method
|
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|
Visual inspection for sliced and lapped silicon wafers
|
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|
Method of measurement of etch pit density of germanium crystal
|
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|
Measurement of minority carrier life time in germanium by photoconductive decay method
|
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|
Determination of conductivity type in germanium by thermoelectromotive method method
|
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|
Testing methods for resistivity of conductive fine ceramic thin films with four point probe array
|
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|
Test methods for measuring resistivity of electrically conductive ceramic thin films with Van der Pauw method
|
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
| Страницы: 1 |