| Обозначение | Заглавие на русском языке | Статус | Язык документа | Цена (с НДС 20%)
в рублях |
|
|
Интегральные схемы. Измерение электромагнитных излучений от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 6. Измерение наведенных излучений. Метод с применением магнитного зонда
|
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|
Интегральные схемы. Измерение электромагнитных излучений от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 6. Измерение наведенных излучений. Метод с применением магнитного зонда
|
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|
Интегральные схемы. Измерение электромагнитных излучений от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 6. Измерение наведенных излучений. Метод с применением магнитного зонда
|
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|
Библиотеки автоматизации проектирования электронных компонентов. Часть 1. Спецификации входа/выхода буферной информации
|
|
|
На английском языке
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|
Этикетки упаковочные изделий для электронных блоков, использующие штриховой код и двухразмерную символику
|
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|
Интегральные схемы. Измерение стойкости к электромагнитным помехам, от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 1. Общие положения и определения
|
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|
Интегральные схемы. Измерение стойкости к электромагнитным помехам, от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 1. Общие положения и определения. Поправка к DIN EN 62132-1:2006-06
|
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|
Интегральные схемы. Измерение стойкости к электромагнитным помехам, от 150 kHz до 1 GHz. Часть 3. Метод подпитки объемным током
|
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|
Интегральные сети. Измерение стойкости к электромагнитным помехам, от 150 kHz до 1 GHz. Часть 4. Метод прямой радиочастотной подпитки
|
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|
Интегральные сети. Измерение стойкости к электромагнитным помехам, от 150 kHz до 1 GHz. Часть 5. Метод Фарадея
|
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|
Полупроводниковые штампованные изделия. Часть 1. Требования для получения и использования
|
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|
Полупроводниковые штампованные изделия. Часть 2. Форматы обмена данными
|
|
|
На английском языке
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|
Полупроводниковые штампованные изделия. Часть 5. Требования к информации, касающейся электрического моделирования
|
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|
Полупроводниковые штампованные изделия. Часть 5. Требования к информации, касающейся теплового моделирования
|
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|
Полупроводниковые приборы. Испытания с подвижным ионом для полупроводниковых транзисторов с полевым эффектом металл-оксид
|
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|
Моделирование электромагнитно совместимых интегральных схем. Часть 2. Модели интегральных схем для иммитации поведения при электромагнитном излучении
|
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|
Схемы интегральные гибридные и пленочные. Групповые технические условия
|
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|
Схемы интегральные гибридные и пленочные. Типовая форма частных технических условий
|
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|
Схемы гибридные и пленочные интегральные. Часть 1. Общие технические условия. Процедура подтверждения возможностей
|
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|
Схемы гибридные и пленочные интегральные. Часть 2. Внутренний визуальный контроль и специальные испытания
|
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
| Страницы: 1 / 2 / 3 / 4 / 5 / 6 / 7 / 8 / 9 |