Обозначение | Заглавие на русском языке | Статус | Язык документа | Цена (с НДС 20%) в рублях |
|
Приборы полупроводниковые. Часть 14-11. Полупроводниковые датчики. Метод испытания датчиков на основе использования поверхностных акустических волн с встроенными датчиками УФ-излучения, освещенности и температуры
|
Действует |
На языке оригинала
|
29016,00
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Часть 16-2. Интегральные схемы для СВЧ-диапазона. Предварительное пересчетное устройство для частоты
|
Действует |
На языке оригинала
|
37440,00
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Часть 16-2. Интегральные схемы для СВЧ-диапазона. Предварительное пересчетное устройство для частоты. Изменение 1
|
Действует |
На языке оригинала
|
1872,00
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Часть 16-2. Интегральные схемы для СВЧ-диапазона. Предварительное пересчетное устройство для частоты
|
Действует |
На языке оригинала
|
66456,00
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Дискретные приборы. Часть 18-2. Полупроводниковые биосенсоры. Процесс оценки модулей безлинзовых CMOS фотонных матричных сенсорных блоков
|
Действует |
На языке оригинала
|
21528,00
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Интегральные схемы. Часть 1: Общие положения
|
Заменен |
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Интегральные схемы. Часть 1: Общие положения. Изменение 1
|
Заменен |
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Интегральные схемы. Часть 1: Общие положения. Изменение 2
|
Заменен |
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Интегральные схемы. Часть 1: Общие положения. Изменение 3
|
Заменен |
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний
|
Заменен |
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Изменение 1
|
Заменен |
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Изменение 2
|
Заменен |
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний
|
Заменен |
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 1. Общие положения
|
Действует |
На языке оригинала
|
3744,00
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 1. Общие положения. Поправка 1
|
Действует |
На языке оригинала
|
-
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 2. Пониженное атмосферное давление
|
Действует |
На языке оригинала
|
3744,00
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 2. Пониженное атмосферное давление. Поправка 1
|
Действует |
На языке оригинала
|
-
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 3. Внешний визуальный осмотр
|
Заменен |
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 3. Внешний визуальный осмотр. Поправка 1
|
Заменен |
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 3. Внешний визуальный осмотр
|
Действует |
На языке оригинала
|
7488,00
|
|
Страницы: 1 / 2 / 3 / 4 / 5 / 6 / 7 / 8 / 9 / 10 / 11 / 12 / 13 ... / 16 |