| Обозначение | Заглавие на русском языке | Статус | Язык документа | Цена (с НДС 20%)
в рублях |
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 10. Механический удар. Устройство и подсборка
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
14976,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 11. Быстрое изменение температуры. Метод двух ванн
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
3744,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 11. Быстрое изменение температуры. Метод двух ванн. Поправка 1
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
-
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 11. Быстрое изменение температуры. Метод двух ванн. Поправка 2
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
-
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 12. Вибрации, переменная частота
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 12. Вибрации, переменная частота. Поправка 1
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 12. Вибрации, переменная частота
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
3744,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 13. Солевая атмосфера
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 13. Солевая атмосфера. Поправка 1
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 13. Солевая атмосфера
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
14976,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 14. Прочность выводов (целостность концевых выводов)
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
14976,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 15. Стойкость к температуре пайки при штырьковом монтаже приборов
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 15. Стойкость к температуре пайки при штырьковом монтаже приборов
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 15. Стойкость к температуре пайки при штырьковом монтаже приборов
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
7488,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 16. Обнаружение частиц по импульсному шуму
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
3744,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 17. Нейтронное облучение
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 17. Нейтронное облучение
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
7488,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 18. Нейтронное облучение (суммарная доза)
|
Заменен |
|
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 18. Ионизирующее излучение (суммарная доза)
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
29016,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 19. Прочность кристалла на сдвиг
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
3744,00
|
|
| Страницы: ... / 2 / 3 / 4 / 5 / 6 / 7 / 8 / 9 / 10 / 11 / 12 / 13 / 14 / 15 ... / 16 |