|
|
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
ОСТ11-050.068-83 | на печать | Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые. Метод контроля дефектов структуры приповерхностных слоев пластин |
|
| | Библиография Архивный документ - неактуализированная версия. Обозначение | ОСТ11-050.068-83 | Заглавие на русском языке | Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые. Метод контроля дефектов структуры приповерхностных слоев пластин | Дата введения в действие (опубликования) | 01.01.1985 | Код КС (ОКС, МКС) | 31.200 | Код КГС | Т59 | Код ОКСТУ | 0011 | Индекс рубрикатора ГРНТИ | 672317;811407;818117 | Вид требований | Требования единые гарантирующие конкурентноспособность на мировом рынке | Количество страниц (оригинала) | 14 | Примечание | | |
| | Стандарт ОСТ11-050.068-83 входит в рубрики классификатора:
| | | |
| |
|
|
|
Цены |
Неактуализированная версия |
По запросу. Пишите на gost@gostinfo.ru.
|
|
|