 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
IEC 60749-29(2003) |  на печать | | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 29. Испытание на "защелкивание" |
|
| | Библиография | Обозначение | IEC 60749-29(2003) | | Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 29. Испытание на "защелкивание" | | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test | | МКС | 31.080 | | Вид стандарта | ST | | Обозначение заменяемого(ых) | IEC/PAS 62181(2000) | | Обозначение заменяющего | IEC 60749-29(2011) | | Гармонизирован с: | IEC60749-29(CD 04-2004)WM/180D-04 | | Дата опубликования | 13.11.2003 | | Язык оригинала | английский;французский | | Количество страниц оригинала | 44 | | ТК – разработчик стандарта | TC 47 | | Номер издания | 1.0 | | Статус | Заменен | | Код цены | | |
| | Стандарт IEC 60749-29(2003) входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
Нет
|
|
|
|