![](/i/imgs/sp.gif) |
![](/i/imgs/search.gif) |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
IEC/PAS 62276(2001) | на печать | Монокристаллические пластины, используемые для устройств на поверхностных акустических волнах. Технические условия и метод измерения |
|
| ![](/i/imgs/sp.gif) | Библиография Обозначение | IEC/PAS 62276(2001) | Заглавие на русском языке | Монокристаллические пластины, используемые для устройств на поверхностных акустических волнах. Технические условия и метод измерения | Заглавие на английском языке | Single crystal wafers applied for surface acoustic wave device. Specification and measuring method | МКС | 31.140 | Вид стандарта | ST | Обозначение заменяющего | IEC 62276(2005) | Дата опубликования | 01.08.2001 | Язык оригинала | английский | Количество страниц оригинала | 34 | ТК – разработчик стандарта | TC 49 | Номер издания | 1.0 | Статус | Заменен | Код цены | | ![](/i/imgs/sp.gif) |
| ![](/i/imgs/sp.gif) | Стандарт IEC/PAS 62276(2001) входит в рубрики классификатора:
| |
| ![](/i/imgs/sp.gif) |
|
![](/i/imgs/sp.gif) |
![](/i/imgs/sp.gif) |
Цены |
На языке оригинала |
Нет
|
|
|