![](/i/imgs/sp.gif) |
![](/i/imgs/search.gif) |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
| ![](/i/imgs/sp.gif) | Библиография Обозначение | DIN 44475-1980 | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices and integrated circuits; noise, terms and definitions | Дата опубликования | 01.10.1980 | МКС | 31.080.00*31.200 | Вид стандарта | ST*N | Обозначение заменяющего | DIN IEC 60747-1(1987.03) | Язык оригинала | немецкий | Количество страниц оригинала | 3 | Перекрестные ссылки | | Код цены | Preisgruppe 4 | ![](/i/imgs/sp.gif) |
| ![](/i/imgs/sp.gif) | Стандарт DIN 44475-1980 входит в рубрики классификатора:
| |
| ![](/i/imgs/sp.gif) |
|
![](/i/imgs/sp.gif) |
![](/i/imgs/sp.gif) |
Цены |
На языке оригинала |
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|