 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
DIN EN 62373-2007 |  на печать | | Транзисторы со структурой металл-оксид, полупроводниковые, полевые. Испытание стабильности при отклонении температуры |
|
| | Библиография | Обозначение | DIN EN 62373-2007 | | Заглавие на русском языке | Транзисторы со структурой металл-оксид, полупроводниковые, полевые. Испытание стабильности при отклонении температуры | | Заглавие на английском языке | Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET) (IEC 62373:2006); German version EN 62373:2006 | | Дата опубликования | 01.01.2007 | | МКС | 31.080.30 | | Вид стандарта | ST | | Язык оригинала | немецкий | | Количество страниц оригинала | 14 | | Перекрестные ссылки | | | Код цены | Preisgruppe 10 | |
| | Стандарт DIN EN 62373-2007 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|