 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
DIN EN 60749-23-2004 |  на печать | | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 23. Высокотемпературная эксплуатационная долговечность |
|
| | Библиография | Обозначение | DIN EN 60749-23-2004 | | Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 23. Высокотемпературная эксплуатационная долговечность | | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life (IEC 60749-23:2004); German version EN 60749-23:2004 | | Дата опубликования | 01.10.2004 | | МКС | 31.080.01 | | Вид стандарта | ST | | Обозначение заменяемого(ых) | DIN IEC 60749-23(2002-10) | | Обозначение заменяющего | DIN EN 60749-23(2011-07) | | Язык оригинала | немецкий | | Количество страниц оригинала | 11 | | Перекрестные ссылки | IEC 60747 Reihe*IEC 60749-34(2004-03) | | Код цены | Preisgruppe 9 | |
| | Стандарт DIN EN 60749-23-2004 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|