 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
DIN EN 60749-5-2003 |  на печать | | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 5. Испытания на долговечность при смещении установившегося состояния по температуре и влажности |
|
| | Библиография | Обозначение | DIN EN 60749-5-2003 | | Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 5. Испытания на долговечность при смещении установившегося состояния по температуре и влажности | | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test (IEC 60749-5:2003); German version EN 60749-5:2003 | | Дата опубликования | 01.09.2003 | | МКС | 31.080.01 | | Вид стандарта | ST | | Обозначение заменяемого(ых) | DIN EN 60749(2002-09, partial)*DIN EN 60749-5(2002-06) | | Обозначение заменяющего | DIN EN 60749-5(2018-01) | | Язык оригинала | немецкий | | Количество страниц оригинала | 10 | | Перекрестные ссылки | IEC 60749-4(2002-04) | | Код цены | Preisgruppe 8 | |
| | Стандарт DIN EN 60749-5-2003 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|