 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
DIN EN 60749-8-2003 |  на печать | | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 8. Герметичность |
|
| | Библиография | Обозначение | DIN EN 60749-8-2003 | | Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 8. Герметичность | | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 8: Sealing (IEC 60749-8:2002 + Corr. 1:2003 + Corr. 2:2003); German version EN 60749-8:2003 | | Дата опубликования | 01.12.2003 | | МКС | 31.080.01 | | Вид стандарта | ST | | Обозначение заменяемого(ых) | DIN EN 60749(2002-09, partial) | | Язык оригинала | немецкий | | Количество страниц оригинала | 16 | | Перекрестные ссылки | EN 60068-2-17(1994-08)*IEC 60068-2-17(1994-07) | | Код цены | Preisgruppe 12 | |
| | Стандарт DIN EN 60749-8-2003 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|