 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
DIN 50451-4-2007 |  на печать | | Испытание материалов, применяемых в технологии изготовления полупроводников. Определение содержания примесей в жидкостях. Часть 4. Определение 34 элементов в сверхчистой воде масс-спектрометрическим анализом с индуктивно-связанной плазмой |
|
| | Библиография | Обозначение | DIN 50451-4-2007 | | Заглавие на русском языке | Испытание материалов, применяемых в технологии изготовления полупроводников. Определение содержания примесей в жидкостях. Часть 4. Определение 34 элементов в сверхчистой воде масс-спектрометрическим анализом с индуктивно-связанной плазмой | | Заглавие на английском языке | Testing of materials for semiconductor technology - Determination of trace elements in liquids - Part 4: Determination of 34 elements in ultra pure water by mass spectrometry with inductively coupled plasma (ICP-MS) | | Дата опубликования | 01.02.2007 | | МКС | 29.045 | | Вид стандарта | ST | | Язык оригинала | немецкий | | Количество страниц оригинала | 13 | | Перекрестные ссылки | DIN 32645(2006-09)(Draft)*DIN 38406-29(1999-05)*DIN 51401-1(2001-12)*DIN EN ISO 8655-2(2002-12)*DIN EN ISO 14644-1(1999-07)*DIN ISO 5725-2(2002-12)*DIN ISO 5725-4(2003-01) | | Код цены | Preisgruppe 9 | |
| | Стандарт DIN 50451-4-2007 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|