|
|
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
DIN 45940-1130*CECC 90113-1989 | на печать | Гармонизированная система оценки качества электронных компонентов. Контуры памяти монолитные кремниевые электрически программируемые на считку со стиранием записи с помощью ультрафиолетового излучения для МОП-структуры. Типовые формы частных технических условий |
|
| | Библиография Обозначение | DIN 45940-1130*CECC 90113-1989 | Заглавие на русском языке | Гармонизированная система оценки качества электронных компонентов. Контуры памяти монолитные кремниевые электрически программируемые на считку со стиранием записи с помощью ультрафиолетового излучения для МОП-структуры. Типовые формы частных технических условий | Заглавие на английском языке | Harmonized system of quality assessment for electronic components; blank detail specification: MOS ultra-violet light erasable electrically programmable read only memories silicon monolithic circuits | Дата опубликования | 01.02.1989 | МКС | 31.200 | Вид стандарта | ST | Язык оригинала | немецкий | Количество страниц оригинала | 30 | Количество страниц перевода | 38 | Перекрестные ссылки | DIN 45940-1(1984-11)*CECC 90100(1986)*IEC 60117*IEC 60117-15*IEC 60147*IEC 60147-0(1966)*IEC 60147-1(1972)*IEC 60147-2(1963)*IEC 60148(1969) | Код цены | Preisgruppe 10 | |
| | Стандарт DIN 45940-1130*CECC 90113-1989 входит в рубрики классификатора:
| |
| |
|
|
|
Цены |
На языке оригинала |
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|