 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
IEC 60747-5-3(1997)/Amd.1(2002) |  на печать | | Приборы полупроводниковые дискретные и интегральные схемы. Часть 5-3. Оптоэлектронные приборы. Методы измерения. Изменение 1 |
|
| | Библиография | Обозначение | IEC 60747-5-3(1997)/Amd.1(2002) | | Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые дискретные и интегральные схемы. Часть 5-3. Оптоэлектронные приборы. Методы измерения. Изменение 1 | | Заглавие на английском языке | Discrete semiconductor devices and integrated circuits - Part 5-3: Optoelectronic devices - Measuring methods. Amendment 1 | | МКС | 31.080.99 | | Вид стандарта | ST | | Обозначение заменяемого(ых) | IEC 60747-5(1992), IEC 60747-5(1992)/Amd.1(1994), IEC 60747-5(1992)/Amd.2(1995) | | Обозначение заменяющего | IEC 60747-5-4(2006) в части, IEC 60747-5-5(2007) в части, IEC 60747-5-5(2007)/Amd.1(2013) в части, IEC 60747-5-5(2013) в части, IEC 60747-5-6(2016) в части, IEC 60747-5-7(2016) в части | | Обозначение заменяемого в части | IEC 60747-5-3(1997) | | Дата опубликования | 01.03.2002 | | Язык оригинала | английский;французский | | Количество страниц оригинала | 26 | | ТК – разработчик стандарта | SC 47E | | Номер издания | 1.0 | | Статус | Заменен | | Код цены | | |
| | Стандарт IEC 60747-5-3(1997)/Amd.1(2002) входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
Нет
|
|
|
|