| Обозначение | ГОСТ 8.594-2009 |
| Полное обозначение | ГОСТ 8.594-2009 |
| Заглавие на русском языке | Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы электронные растровые. Методика поверки |
| Заглавие на английском языке | State system for ensuring the uniformity of measurements. Scanning electron microscopes. Method for verification |
| Дата введения в действие | 01.11.2010 |
| Дата огр. срока действия | |
| ОКС | 17.040.01 |
| Код ОКП | |
| Код КГС | Т88 |
| Код ОКСТУ | |
| Индекс рубрикатора ГРНТИ | |
| Аннотация (область применения) | Настоящий стандарт распространяется на растровые электронные микроскопы, применяемые для измерений линейных размеров в диапазоне от 10 (в степени минус девять) до 10 (в степени минус шесть) м, и устанавливает методику их первичной и периодических поверок с использованием рельефных мер по ГОСТ 8.591 и ГОСТ 8.592 |
| Ключевые слова | длина;рельефные меры нанометрового диапазона;растровые электронные микроскопы;методика поверки |
| Термины и определения | Раздел стандарта |
| Наличие терминов РОСТЕРМ | |
| Вид стандарта | Основополагающие стандарты |
| Вид требований | |
| Дескрипторы (английский язык) | state system, ensuring, uniformity, measurements, scanning electron microscopes, verification |
| Обозначение заменяемого(ых) | |
| Обозначение заменяющего | |
| Обозначение заменяемого в части | |
| Обозначение заменяющего в части | |
| Гармонизирован с: | |
| Аутентичный текст с ISO | |
| Аутентичный текст с IEC | |
| Аутентичный текст с ГОСТ | |
| Аутентичный текст с прочими | |
| Содержит требования: ISO | |
| Содержит требования: IEC | |
| Содержит требования: СЭВ | |
| Содержит требования: ГОСТ | |
| Содержит требования: прочими | |
| Нормативные ссылки на: ISO | |
| Нормативные ссылки на: IEC | |
| Нормативные ссылки на: ГОСТ | ГОСТ 8.591;ГОСТ 8.592;ГОСТ 12.2.0611;ГОСТ Р ИСО 14644-1-2017 |
| Документ внесен организацией СНГ | Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии |
| Нормативные ссылки на: Прочие | |
| Документ принят организацией СНГ | Межгосударственный Совет по стандартизации метрологии и сертификации |
| Номер протокола | 36-2009 |
| Дата принятия в МГС | 11.11.2009 |
| Присоединившиеся страны | Республика Армения;Республика Беларусь;Республика Казахстан;Кыргызская Республика;Республика Молдова;Российская Федерация;Республика Таджикистан;Республика Узбекистан;Украина |
| Управление Ростехрегулирования | 310 - Управление метрологии |
| Технический комитет России | 441 - Нанотехнологии |
| Разработчик МНД | |
| Межгосударственный ТК | |
| Дата последнего издания | 09.12.2019 |
| Номер(а) изменении(й) | переиздание |
| Количество страниц (оригинала) | 12 |
| Организация - Разработчик | Открытое акционерное общество «Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума» (Россия); Федеральное государственное учреждение «Российский научный центр «Курчатовский институт» (Россия); Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования «Московский физико-технический институт (государственный университет)» (Россия) |
| Статус | Действует |
| Код цены | 2 |
| На территории РФ пользоваться | |
| Отменен в части | |
| Номер ТК за которым закреплен документ | |
| Номер приказа о закреплении документа за ТК | |
| Дата приказа о закреплении документа за ТК | |
 |