|
|
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
ISO 12406:2010 | на печать | Поверхностный химический анализ. Масс-спектрометрия с вторичным ионом. Метод профилирования глубины местонахождения мышьяка в кремнии |
|
| | Библиография Обозначение | ISO 12406:2010 | Статус | Действует | Вид стандарта | ST | Заглавие на русском языке | Поверхностный химический анализ. Масс-спектрометрия с вторичным ионом. Метод профилирования глубины местонахождения мышьяка в кремнии | Заглавие на английском языке | Surface chemical analysis -- Secondary-ion mass spectrometry -- Method for depth profiling of arsenic in silicon | Код КС (ОКС, МКС) | 71.040.40 | ТК – разработчик стандарта | TC 201/SC 6 | Язык оригинала | английский | Номер издания | 1 | Дата опубликования | 08.11.2010 | Количество страниц оригинала | 20 | Код цены | C | Примечание | | |
| | Стандарт ISO 12406:2010 входит в рубрики классификатора:
| |
| |
|
|
|
Цены |
На языке оригинала |
16704,00
|
|
|