![](/i/imgs/sp.gif) |
![](/i/imgs/search.gif) |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
IEC 62047-8(2011) | на печать | Полупроводниковые приборы. Микро-электро-механические приборы. Часть 8. Методы испытания на осевую усталость тонкопленочных материалов |
|
| ![](/i/imgs/sp.gif) | Библиография Обозначение | IEC 62047-8(2011) | Заглавие на русском языке | Полупроводниковые приборы. Микро-электро-механические приборы. Часть 8. Методы испытания на осевую усталость тонкопленочных материалов | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 8: Strip bending test method for tensile property measurement of thin films | МКС | 31.080.99 | Вид стандарта | ST | Дата опубликования | 14.03.2011 | Язык оригинала | английский;французский | Количество страниц оригинала | 40 | ТК – разработчик стандарта | SC 47F | Номер издания | 1.0 | Статус | Действует | Код цены | E | ![](/i/imgs/sp.gif) |
| ![](/i/imgs/sp.gif) | Стандарт IEC 62047-8(2011) входит в рубрики классификатора:
| |
| ![](/i/imgs/sp.gif) |
|
![](/i/imgs/sp.gif) |
![](/i/imgs/sp.gif) |
Цены |
На языке оригинала |
20010,00
|
|
|