|
|
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
ISO 13067:2011 | на печать | Микропучковый анализ. Дифракция отраженных электронов. Измерение среднего размера зерна |
|
| | Библиография Обозначение | ISO 13067:2011 | Статус | Заменен | Вид стандарта | ST | Заглавие на русском языке | Микропучковый анализ. Дифракция отраженных электронов. Измерение среднего размера зерна | Заглавие на английском языке | Microbeam analysis -- Electron backscatter diffraction -- Measurement of average grain size | Дата отмены | 15.07.2020 00:00:00 | Код КС (ОКС, МКС) | 71.040.50 | Обозначение заменяющего | ISO 13067:2020 | ТК – разработчик стандарта | TC 202 | Язык оригинала | английский | Номер издания | 1 | Дата опубликования | 28.10.2011 | Количество страниц оригинала | 26 | Аннотация (область применения) | Настоящий международный стандарт описывает методы измерения среднего размера зерна (кристаллита) на двумерных полированных шлифах с помощью дифракции отраженных электронов (ДОЭ=EBSD). Этот метод используется для определения ориентации, разориентации и коэффициента качества изображения как функции структурной локализации кристаллического образца [1].
ПРИМЕЧАНИЕ 1 Тогда как традиционные методы определения размера зерна (кристаллита) с помощью оптического микроскопа уже хорошо отработаны, методы ДОЭ предлагают ряд преимуществ над старыми методами, включая улучшенную пространственную разрешающую способность и количественное описание ориентации кристаллитов.
ПРИМЕЧАНИЕ 2 Этот метод также годится для измерения размера кристаллита материалов сложного строения, например, материалов со значительным содержанием двухфазной микроструктуры.
ПРИМЕЧАНИЕ 3 Необходимо предупредить пользователя об осторожной интерпретации результатов при попытке исследования образцов с высоким уровнем деформации | Количество страниц перевода | 28 | Код цены | C | Примечание | | |
| | Стандарт ISO 13067:2011 входит в рубрики классификатора:
| |
| |
|
|
|
Цены |
Перевод на русский язык |
Нет
|
На языке оригинала |
Нет
|
|
|