 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
DIN EN 60749-7-2012 |  на печать | | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 7. Измерение внутреннего содержания влаги и анализ других остаточных газов |
|
| | Библиография | Обозначение | DIN EN 60749-7-2012 | | Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 7. Измерение внутреннего содержания влаги и анализ других остаточных газов | | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases (IEC 60749-7:2011); German version EN 60749-7:2011 | | Дата опубликования | 01.02.2012 | | МКС | 31.080.01 | | Вид стандарта | ST | | Обозначение заменяемого(ых) | DIN EN 60749-7(2003-04)*DIN EN 60749-7(2009-10) | | Язык оригинала | немецкий | | Количество страниц оригинала | 12 | | Перекрестные ссылки | IEC 60749-8(2002-08) | | Код цены | Preisgruppe 11 | |
| | Стандарт DIN EN 60749-7-2012 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|