 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
DIN EN 60749-40-2012 |  на печать | | Полупроводниковые устройства. Методы механических и климатических испытаний. Часть 40. Метод испытания уровня падения табло с применением тензометра |
|
| | Библиография | Обозначение | DIN EN 60749-40-2012 | | Заглавие на русском языке | Полупроводниковые устройства. Методы механических и климатических испытаний. Часть 40. Метод испытания уровня падения табло с применением тензометра | | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 40: Board level drop test method using a strain gauge (IEC 60749-40:2011); German version EN 60749-40:2011 | | Дата опубликования | 01.02.2012 | | МКС | 31.080.01 | | Вид стандарта | ST | | Обозначение заменяемого(ых) | DIN IEC 60749-40(2009-06) | | Язык оригинала | немецкий | | Количество страниц оригинала | 23 | | Перекрестные ссылки | IEC 60749-37(2008-01) | | Код цены | Preisgruppe 15 | |
| | Стандарт DIN EN 60749-40-2012 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|