 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
DIN EN 62047-10-2012 |  на печать | | Полупроводниковые приборы. Микро-электромеханические приборы. Часть 10. Испытание на сжатие микро - колонн для материалов MEMS |
|
| | Библиография | Обозначение | DIN EN 62047-10-2012 | | Заглавие на русском языке | Полупроводниковые приборы. Микро-электромеханические приборы. Часть 10. Испытание на сжатие микро - колонн для материалов MEMS | | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 10: Micro-pillar compression test for MEMS materials (IEC 62047-10:2011); German version EN 62047-10:2011 | | Дата опубликования | 01.03.2012 | | МКС | 31.080.01*31.220.01 | | Вид стандарта | ST | | Обозначение заменяемого(ых) | DIN IEC 62047-10(2010-05) | | Язык оригинала | немецкий | | Количество страниц оригинала | 13 | | Перекрестные ссылки | ASTM E 9(2009)*IEC 62047-8(2011-03) | | Код цены | Preisgruppe 12 | |
| | Стандарт DIN EN 62047-10-2012 входит в рубрики классификатора:
| | | | | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|