 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
IEC 60749-27(2012) | на печать | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 27. Испытание на чувствительность к электростатическому разряду. Механическая модель |
|
|  | Библиография Обозначение | IEC 60749-27(2012) | Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 27. Испытание на чувствительность к электростатическому разряду. Механическая модель | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM) | МКС | 31.080.01 | Вид стандарта | ST | Примечание | Объединенное издание содержит IEC 60749-27(2006), IEC 60749-27(2006)/Amd.1(2012) | Дата опубликования | 25.09.2012 | Язык оригинала | английский;французский | Количество страниц оригинала | 30 | ТК – разработчик стандарта | TC 47 | Номер издания | 2.1 | Статус | Действует | Код цены | CG |  |
|  | Стандарт IEC 60749-27(2012) входит в рубрики классификатора:
| |
|  |
|
 |
 |
Цены |
На языке оригинала |
29016,00
|
|
|