|
|
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
ISO 11505:2012 | на печать | Химический анализ поверхности. Общие методики профилирования по глубине для количественного определения состава посредством спектрометрии оптической эмиссии с тлеющим разрядом |
|
| | Библиография Обозначение | ISO 11505:2012 | Статус | Действует | Вид стандарта | ST | Заглавие на русском языке | Химический анализ поверхности. Общие методики профилирования по глубине для количественного определения состава посредством спектрометрии оптической эмиссии с тлеющим разрядом | Заглавие на английском языке | Surface chemical analysis -- General procedures for quantitative compositional depth profiling by glow discharge optical emission spectrometry | Код КС (ОКС, МКС) | 71.040.40 | ТК – разработчик стандарта | TC 201/SC 8 | Язык оригинала | английский | Номер издания | 1 | Дата опубликования | 12.12.2012 | Количество страниц оригинала | 38 | Код цены | E | Примечание | | |
| | Стандарт ISO 11505:2012 входит в рубрики классификатора:
| |
| |
|
|
|
Цены |
На языке оригинала |
26274,00
|
|
|