 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
IEC 60191-6-16(2007) | на печать | Стандартизация конструкций полупроводниковых приборов. Часть 6-16. Глоссарий испытаний полупроводников и электротермотренированных гнезд для BGA, LGA, FBGA и FLGA |
|
|  | Библиография Обозначение | IEC 60191-6-16(2007) | Заглавие на русском языке | Стандартизация конструкций полупроводниковых приборов. Часть 6-16. Глоссарий испытаний полупроводников и электротермотренированных гнезд для BGA, LGA, FBGA и FLGA | Заглавие на английском языке | Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 6-16: Glossary of semiconductor tests and burn-in sockets for BGA, LGA, FBGA and FLGA | МКС | 31.080.01 | Вид стандарта | ST | Примечание | Эта двуязычная версия (2012-07) соответствует одноязычной английской версии, изданной в 2007-04 | Дата опубликования | 01.07.2012 | Язык оригинала | английский;французский | Количество страниц оригинала | 21 | ТК – разработчик стандарта | SC 47D | Номер издания | 1.0 | Статус | Действует | Код цены | C |  |
|  | Стандарт IEC 60191-6-16(2007) входит в рубрики классификатора:
| |
|  |
|
 |
 |
Цены |
На языке оригинала |
7488,00
|
|
|