![](/i/imgs/sp.gif) |
![](/i/imgs/search.gif) |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
OVE/ONORM EN 62374-1:2011 08 01 | на печать | Полупроводниковые приборы. Часть 1. Испытание на пробой диэлектрика в зависимости от времени (TDDB) для интерметаллических слоев |
|
| ![](/i/imgs/sp.gif) | Библиография Обозначение | OVE/ONORM EN 62374-1:2011 08 01 | Заглавие на русском языке | Полупроводниковые приборы. Часть 1. Испытание на пробой диэлектрика в зависимости от времени (TDDB) для интерметаллических слоев | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Part 1: Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers (IEC 62374-1:2010) (english version) | Код МКС | 31.080.01 | Дата опубликования | 01.08.2011 | Язык оригинала | английский | ![](/i/imgs/sp.gif) |
| ![](/i/imgs/sp.gif) | Стандарт OVE/ONORM EN 62374-1:2011 08 01 входит в рубрики классификатора:
| |
| ![](/i/imgs/sp.gif) |
|
![](/i/imgs/sp.gif) |
![](/i/imgs/sp.gif) |
Цены |
На английском языке |
0,00
|
|
|