 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
OVE/ONORM EN 60191-6-16:2007 12 01 |  на печать | | Стандартизация конструкций полупроводниковых приборов. Часть 6-16. Глоссарий испытаний полупроводников и электротермотренированных гнезд для BGA, LGA, FBGA и FLGA |
|
| | Библиография | Обозначение | OVE/ONORM EN 60191-6-16:2007 12 01 | | Заглавие на русском языке | Стандартизация конструкций полупроводниковых приборов. Часть 6-16. Глоссарий испытаний полупроводников и электротермотренированных гнезд для BGA, LGA, FBGA и FLGA | | Заглавие на английском языке | Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 6-16: Glossary of semiconductor tests and burn-in sockets for BGA, LGA, FBGA and FLGA (IEC 60191-6-16:2007) | | Код МКС | 31.080.01 | | Дата опубликования | 01.12.2007 | | Язык оригинала | немецкий | |
| | Стандарт OVE/ONORM EN 60191-6-16:2007 12 01 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На немецком языке |
0,00
|
|
|
|