|
|
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
OVE/ONORM EN 60749-10:2003 10 01 | на печать | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 10. Механический удар |
|
| | Библиография Обозначение | OVE/ONORM EN 60749-10:2003 10 01 | Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 10. Механический удар | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 10: Mechanical shock (IEC 60749-10:2002) | Код МКС | 31.080.01 | Дата опубликования | 01.10.2003 | Язык оригинала | немецкий | |
| | Стандарт OVE/ONORM EN 60749-10:2003 10 01 входит в рубрики классификатора:
| |
| |
|
|
|
Цены |
На немецком языке |
0,00
|
|
|