 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
| | Библиография | Обозначение | DIN IEC 60749-1987 | | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices; mechanical and climatic test methods; identical with IEC 60749, edition 1984 | | Дата опубликования | 01.09.1987 | | МКС | 31.080.01 | | Вид стандарта | ST*N | | Обозначение заменяемого(ых) | DIN 41794-1(1972.06)*DIN IEC 47(CO)760(1979.10) | | Обозначение заменяющего | DIN EN 60749-2000 | | Язык оригинала | немецкий | | Количество страниц оригинала | 18 | | Перекрестные ссылки | DIN IEC 60068 Beiblatt 1*DIN IEC 60695-2-2*DIN IEC 60747-1*IEC 60068-1*IEC 60068-2-11*IEC 60068-2-13*IEC 60068-2-14*IEC 60068-2-17*IEC 60068-2-20*IEC 60068-2-21*IEC 60068-2-27*IEC 60068-2-3*IEC 60068-2-30*IEC 60068-2-38*IEC 60068-2-45*IEC 60068-2-48*IEC 60068-2-6*IEC 60068-2-7*IEC 60695-2-2*IEC 60747-1*IEC 60748-1 | | Код цены | Preisgruppe 12 | |
| | Стандарт DIN IEC 60749-1987 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|