 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
DIN EN 62047-17-2015 |  на печать | | Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 17. Методы определения остаточных напряжений в пленках MEMS. Метод испытания на вспучивание для измерения механических свойств тонких пленок |
|
| | Библиография | Обозначение | DIN EN 62047-17-2015 | | Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 17. Методы определения остаточных напряжений в пленках MEMS. Метод испытания на вспучивание для измерения механических свойств тонких пленок | | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 17: Bulge test method for measuring mechanical properties of thin films (IEC 62047-17:2015); German version EN 62047-17:2015 | | Дата опубликования | 01.12.2015 | | МКС | 31.080.01*31.220.01 | | Вид стандарта | ST | | Обозначение заменяемого(ых) | DIN EN 62047-17(2011-06) | | Язык оригинала | немецкий | | Количество страниц оригинала | 28 | | Перекрестные ссылки | IEC 62047-2(2006-08) | | Код цены | Preisgruppe 16 | |
| | Стандарт DIN EN 62047-17-2015 входит в рубрики классификатора:
| | | | | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|