 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
DIN 50451-3-2014 |  на печать | | Испытание материалов, применяемых в технологии изготовления полупроводников. Определение содержания микроэлементов в жидкостях. Часть 3. Определение 31 элемента в сверхчистой азотной кислоте методом масс-спектрометрического анализа с индуктивно-связанной плазмой |
|
| | Библиография | Обозначение | DIN 50451-3-2014 | | Заглавие на русском языке | Испытание материалов, применяемых в технологии изготовления полупроводников. Определение содержания микроэлементов в жидкостях. Часть 3. Определение 31 элемента в сверхчистой азотной кислоте методом масс-спектрометрического анализа с индуктивно-связанной плазмой | | Заглавие на английском языке | Testing of materials for semiconductor technology - Determination of traces of elements in liquids - Part 3: Determination of 31 elements in high-purity nitric acid by ICP-MS | | Дата опубликования | 01.11.2014 | | МКС | 29.045 | | Вид стандарта | ST | | Обозначение заменяемого(ых) | DIN 50451-3(2003-04)*DIN 50451-3(2012-11) | | Язык оригинала | немецкий | | Количество страниц оригинала | 19 | | Перекрестные ссылки | DIN 32645(2008-11)*DIN 50451-5(2010-03)*DIN 51009(2013-11)*DIN EN ISO 1042(1999-08)*DIN EN ISO 1043-1(2012-03)*DIN EN ISO 8655-2(2002-12)*DIN EN ISO 14644-1(1999-07)*DIN EN ISO 17294-2(2005-02)*DIN ISO 3696(1991-06)*DIN ISO 5725-2(2002-12)*DIN ISO 5725-4(2003-01)*ASTM D 5127(2013)*VDI 2083 Blatt 1(2013-01) | | Код цены | Preisgruppe 11 | |
| | Стандарт DIN 50451-3-2014 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|