 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
DIN 50454-3-1994 |  на печать | | Монокристаллы Ш-V сложных полупроводников. Определение плотности дислокационных ямок травления. Часть 3. Фосфид галлия |
|
| | Библиография | Обозначение | DIN 50454-3-1994 | | Заглавие на русском языке | Монокристаллы Ш-V сложных полупроводников. Определение плотности дислокационных ямок травления. Часть 3. Фосфид галлия | | Заглавие на английском языке | Testing of materials for semiconductor technology - Determination of the dislocation etch pits density in monocrystals of III-V-compound semiconductors - Part 3: Gallium phosphide | | Дата опубликования | 01.10.1994 | | МКС | 29.045 | | Вид стандарта | ST | | Обозначение заменяемого(ых) | DIN 50454-3(1993-06) | | Язык оригинала | немецкий | | Количество страниц оригинала | 2 | | Перекрестные ссылки | DIN 50433-1(1976-12)*DIN 50454-1(1991-11) | | Код цены | Preisgruppe 5 | |
| | Стандарт DIN 50454-3-1994 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|